На главную

 
Научные подразделения Центра
Научная библиотека
Научные советы
Издательская деятельность
История ИК СО РАН
Версия для печати | Главная > Центр > Научные советы > Научный совет по катализу > ... > 2009 год > № 52

№ 52

Содержание

Валерий Васильевич Лунин
(к 70-летию со дня рождения)

Постановления Президиума РАН
"О присуждении премии имени В.Н. Ипатьева 2009 года"
"О присуждении премии имени A.M. Бутлерова 2009 года"

О.О. Паренаго
V Международная научно-практическая конференция «Сверхкритические флюиды: фундаментальные основы, технологии, инновации»

Е.А. Козлова, О.П. Таран, Л.Я. Старцева
1-й Российско-Индийский симпозиум «Катализ и технологии защиты окружающей среды»

Т.В. Замулина
1-я Всероссийская конференция «Методы исследования состава и структуры функциональных материалов»

Т.В. Замулина, В.А. Яковлев
"Семинар на берегах Атлантики"

За рубежом

Приглашения на конференции




Валерий Васильевич Лунин (к 70-летию со дня рождения)

Переход к элементу

Свернуть/Развернуть


Постановления Президиума РАН

Переход к элементу

Свернуть/Развернуть


V Международная научно-практическая конференция

Переход к элементу

Свернуть/Развернуть


Российско-индийский симпозиум "Каталитические технологии для защиты окружающей среды"

Переход к элементу

Свернуть/Развернуть


Конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов"

Переход к разделу

11-16 октября 2009 года в Новосибирском научном центре прошла 1-я Всероссийская конференция
" Методы исследования состава и структуры функциональных материалов".

Определение характеристик химического состава и структуры функциональных материалов абсолютно необходимо как при контроле процессов их производства, так и при сертификации конечной продукции. Значение методов исследования состава и структуры особенно велико при изучении и оптимизации свойств функциональных материалов: проводников, полупроводников, сверхпроводников, магнитных и оптических материалов, люминофоров, термохромных материалов, катализаторов, сорбентов, мембран, полимеров. Такие материалы могут быть кристаллическими и/или аморфными, композитами, в виде тонких пленок, нанообразований, высокочистых веществ.

Само развитие методов исследования состава и структуры связано с решением проблем и задач науки о материалах. В этой области науки используется большой набор различных методических приемов, работают многочисленные коллективы исследователей разных специальностей. Задачей конференции МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СОСТАВА И СТРУКТУРЫ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ являлось обсуждение принципов и подходов к эффективной диагностике функциональных материалов. Специальное внимание на конференции было уделено химическим и физическим методам изучения состава и структуры функциональных наноматериалов.

В работе конференции приняли участие 250 человек из 30 городов СНГ (Россия, Белоруссия, Казахстан, Азербайджан), а также из Японии и Германии. В рамках научной программы было представлено 20 пленарных лекций, 7 ключевых докладов, 7 презентационных докладов фирм-производителей аналитического оборудования, 76 устных секционных докладов и 130 стендовых докладов. Ключевые и устные доклады были представлены на 6-ти секциях: Общие вопросы диагностики состава и структуры; Методы определения химического состава твердых неорганических и органических функциональных материалов на макро-, микро- и наноуровне; Методы определения параметров кристаллической структуры; Методы определения электронных характеристик вещества; Методы определения дисперсности и текстурных характеристик; Термоаналитические методы.

Пленарная сессия была представлена докладами, демонстрирующими последние достижения в области фундаментальных исследований по методологии определения состава и структуры функциональных материалов. Академиком Ю.Д. Третьяковым и к.х.н. П.Е. Казиным (Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова) был представлен доклад “Магнитные методы в исследовании функциональных материалов”. Большое внимание собравшихся вызвал доклад член-корр. РАН А.В. Латышева (Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, Новосибирск) “Комплексная структурная нанодиагностика функциональных систем”, в котором были приведены результаты исследования микроморфологии и микроструктуры поверхности кристаллов при различных полупроводниковых нанотехнологиях методами электронной и сканирующей зондовой микроскопии. Автор привел обзор результатов по исследованию атомного строения поверхности, границ раздела и дефектов структуры в полупроводниковых материалах и развитию методов современной электронной и зондовой микроскопии для анализа и создания твердотельных систем пониженной размерности для наноэлектроники. Основное внимание в докладе было уделено развитию физико-химических основ наноструктурирования полупроводниковых материалов, анализу основных закономерностей роста и дефектообразования в системах пониженной размерности и созданию экспериментальных элементов наномеханики и наноэлектроники. Полученные данные закладывают основы нанотехнологий для управляемого синтеза наноструктур с заданной конфигурацией и необходимыми электронными, механическими и другими свойствами. По мнению А.В. Латышева, диагностика, которая позволяет проводить прецизионное измерение, с точностью до долей нанометров, геометрических параметров этих материалов, является актуальной задачей для развития функциональных материалов. Применение взаимодополняющих высокоразрешающих диагностических методов, адаптированных к изучаемым материалам, в совокупности с уникальными объектами анализа обеспечивает получение принципиально новых знаний о процессах формирования их структуры и морфологии, о процессах дефектообразования и расширяет возможности управления структурным совершенством функциональных низкоразмерных систем.

В докладе д.т.н. А.И. Сапрыкина (Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск) рассмотрены аналитические возможности современных многоэлементных методов количественного химического анализа, проведено сравнение их метрологических характеристик и показаны преимущества, ограничения и область применимости каждого метода для решения конкретных материаловедческих задач. Разработанный автором и его коллегами комплекс прямых и комбинированных методик количественного химического анализа постоянно совершенствуется и используется для аналитического обеспечения технологий глубокой очистки металлов, оксидов, синтеза оксидных монокристаллов (ортогерманата висмута, парателлурита, вольфрамата и молибдата кадмия и др.) и получения наноразмерных структур на основе платиновых металлов и углерода. Этот комплекс методов позволяет не только наиболее полно охарактеризовать степень чистоты получаемых веществ, но и решать фундаментальные проблемы, связанные с установлением влияния химического состава на функциональные свойства материалов.

В пленарном докладе д.х.н. В.В. Малахова (Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск) рассмотрены различные аспекты применения стехиографии и метода динамического режима растворения для исследования разнообразных функциональных материалов. Член-корр. РАН, академик АН РТ К.М. Салихов (Физико-технический институт им. Е.К. Завойского, Казань) обсудил некоторые потенциальные возможности ЭПР спектроскопии для исследования функциональных материалов и привел несколько конкретных примеров применения ЭПР в этих целях.

Член-корр. РАН К.В. Григорович (Институт металлургии и материалов им. А.А. Байкова РАН, Москва) представил доклад о развитии термоэкстракционных методов определения газообразующих примесей в функциональных материалах. Прогресс в современных технологиях невозможен без развития методов диагностики материалов, обладающих соответствующими показателями экспрессности, точности и повторяемости. Низкая трудоемкость, сравнительная простота, надежная и высокопроизводительная аппаратура обеспечили методам высокотемпературной экстракции широкое распространение в промышленности и научных исследованиях. Принципиальным различием методов определения общего содержания ГП и фракционного газового анализа (ФГА) является изменение импульсного режима нагрева на монотонный. Это позволило сделать переход от элементного анализа к вещественному и определило ряд принципиально новых задач количественного анализа сложных аналитических кривых. К.В. Григорович продемонстрировал возможности оригинальных методик определения форм присутствия кислорода, азота и углерода в металлах и сплавах, сплавах на основе железа, в порошках, в том числе наноразмерных, для контроля качества функциональных материалов.

В пленарном докладе к.ф.-м.н. Е.В. Спесивцева (Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, Новосибирск) утверждается, что современные технологии создания новых композиционных тонкопленочных наноматериалов со сложной и переменной стехиометрией основаны на использовании наноразмерных многослойных структур и требуют повышенной точности определения их физическо-химических свойств, в первую очередь, состава и структурного совершенства. Эллипсометрия занимает в арсенале методов анализа поверхности особое место благодаря своим уникальным свойствам: это бесконтактный, прецизионный и высокопроизводительный метод, основанный на анализе состояния поляризации отраженного от образца света. Авторами разработано аппаратурно - методическое обеспечение измерений, отвечающее всем требованиям проводимых научных исследований.

Рентгенофлуоресцентным методам исследования функциональных материалов был посвящен пленарный доклад д.т.н. А.Г. Ревенко (Институт земной коры СО РАН, Иркутск). О возможностях новосибирского лазера на свободных электронах, являющегося сегодня самым мощным в мире источником излучения терагерцового (субмиллиметрового) диапазона, для исследования свойств материалов рассказал в своем пленарном докладе к.ф.-м.н. Б.А. Князев (Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск). Д.х.н. С.Д. Кирик (Институт химии и химической технологии СО РАН, Сибирский федеральный университет, Красноярск) представил обзор применения дифракционных методов к исследованию строения мезоструктурированных мезопористых силикатов (ММС). В докладе д.х.н. И.Г. Васильевой (Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск) рассмотрены проблемы определения реальной стехиометрии и дефектных состояний материалов (локальных и протяженных), которые вызывают химическую неоднородность. В докладе обсуждаются экспериментальные данные по определению отклонения от стехиометрии составов изучаемых объектов на макро-, микро- и наноуровне, позволяющие формировать наиболее полное представление о пространственном химическом состоянии материалов. Обобщение и анализ полученных результатов имеет значение как в связи с общими вопросами химии нестехиометрических материалов, так и с точки зрения проблем, связанных с выяснением природы высокой функциональной способности материалов.

Пленарный доклад о современных возможностях рентгеноструктурного анализа нанокристаллов представил д.х.н. С.В. Цыбуля (Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск), о голографических методах исследования фотополимерных материалов – к.х.н. В.В. Шелковников (Новосибирский институт органической химии им. Н.Н. Ворожцова СО РАН, Новосибирск). Большое внимание слушателей вызвал доклад д.х.н. О.Б. Лапиной (Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск) о ЯМР спектроскопии в твердом теле, являющейся одним из самых информативных методов в определении строения материалов и происходящих в них динамических процессах.

В пленарном докладе д.ф.-м.н. Л.Н. Мазалова (Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск) были представлены методы рентгеновской спектроскопии, которые широко используются для качественного и количественного элементного анализа различных веществ и материалов. В то же время рентгеновские спектры являются мощным и эффективным методом изучения электронного строения атомов, молекул и твердых тел. В связи с появлением мощных источников рентгеновского излучения (синхротронное излучение) рентгеновская спектроскопия в последние два десятилетия испытывает подлинный ренессанс. В докладе были рассмотрены примеры применения рентгеноспектральных методов для изучения различных функциональных материалов: интеркалированных слоистых материалов на основе сульфидов переходных металлов; комплексов переходных металлов с хелатными лигандами, используемыми в качестве прекурсоров для создания различных покрытий; твердых электролитов, магнитных полупроводников.

Слева-направо: д.х.н. И.В. Коптюг, член-корр. РАН, академик АН РТ К.М. Салихов, д.х.н. О.Н. Мартьянов

В докладе д.х.н. О.Н. Мартьянова (Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск) были представлены результаты исследований начальных стадий образования магнитоупорядоченных металлических и оксидных наночастиц в ряде каталитических систем на основе Pd, Fe, Co, Ni, продемонстрированы возможности ферромагнитного резонанса для получения недоступной ранее информации о строении границ раздела в нанесенных каталитических системах. Методы определения параметров кристаллической структуры образцов в условиях высоких давлений in situ представила д.х.н. Е.В. Болдырева (Новосибирский государственный университет, Новосибирск). Д.ф.-м.н. Д.И. Кочубей (Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск) в своем пленарном докладе рассказал об использовании метода EXAFS для контроля процессов синтеза новых функциональных материалов, к.х.н. В.И. Зайковский (Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск) – об исследовании микроструктуры катализаторов и дисперсных систем методом просвечивающей электронной микроскопии. Интересной теме сочетания методов зондовой и электронной микроскопий при исследовании дисперсности, текстуры и электронных характеристик слоев металлических наночастиц был посвящен доклад д.ф.-м.н. А.Н. Титкова (Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург). Оптимальным при изучении дисперсии наночастиц по размерам является метод сканирующей туннельной микроскопии в сверхвысоком вакууме, который обладает наиболее высоким пространственным разрешением, дает корректные значения высот наночастиц, а латеральные размеры частиц могут быть уточнены при сопоставлении с данными метода просвечивающей электронной микроскопии для крупных частиц.

Ключевые и устные доклады четко соответствовали тематике секций и продемонстрировали результаты исследований в области диагностики состава и структуры функциональных материалов, методов определения химического состава твердых неорганических и органических материалов на макро-, микро- и наноуровне, методов определения параметров кристаллической структуры, электронных характеристик вещества, дисперсности и текстурных характеристик функциональных материалов, термоаналитических методов исследования. Стендовая сессия была в большой степени посвящена работам прикладного характера на примерах конкретных систем и материалов. В результате обсуждений и дискуссий с материаловедами перед специалистами в области методов исследования были сформулированы проблемы, решение которых сможет обеспечить прогресс в разработке и синтезе функциональных материалов, в том числе наноматериалов.

В рамках конференции прошел Семинар научной молодежи, посвященный 175-летию со дня рождения Д.И. Менделеева. По результатам рецензирования для представления на семинаре Программным комитетом было отобрано 9 устных докладов молодых ученых. На закрытии конференции победителям были вручены дипломы I, II и III степени. Были также вручены грамоты за лучший стендовый доклад и устные секционные доклады аспирантов. Всего в конференции приняло участие 72 молодых ученых.

В рамках конференции прошла выставка компаний-производителей аналитического оборудования и 3 семинара компаний. Представители академической школы с интересом рассматривали предложения специалистов, демонстрирующих последние достижения в области производства научно-технического и аналитического оборудования для исследования состава и структуры функциональных материалов, в том числе наноматериалов.

Труды конференции будут опубликованы в Журнале структурной химии.

Т.В. Замулина


Семинар на берегах Атлантики

Переход к элементу

Свернуть/Развернуть


За рубежом

Переход к элементу

Свернуть/Развернуть


Приглашения на конференции

Переход к элементу

Свернуть/Развернуть



Copyright © catalysis.ru 2005–2024
Политика конфиденциальности в отношении обработки персональных данных