3.1. Темы рефератов.
- Синхротронное излучение.
- Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновская Оже-электронная спектроскопия.
- Спектроскопия рентгеновского поглощения: методы XANES и EXAFS.
- Рентгеновская дифракция.
- Диффузное рассеяние рентгеновского излучения (метод РРА).
- Малоугловое рассеяние рентгеновского излучения.
- Электронная микроскопия.
- Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия.
3.2. Образцы вопросов для подготовки к зачёту.
Вопросы для подготовки к зачету соответствуют п.2.3.Содержание отдельных разделов и тем.
3.3. Список литературы.
- Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ. – М.: Физматлит, 2007. – 672 с.
- Мазалов Л.Н. Рентгеновские спектры. Новосибирск: ИНХ СО РАН, 2003. – 329 с.