Методика электронной томографии нанобъектов

Разработана и реализована на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2010 с атомарным разрешением методика электронной томографии нанобъектов, обладающих кристаллической структурой. Режим наблюдения HACDF (High Angle Annular Dark Field) впервые использован для регистрации угловых серий сильно рассеивающих объектов с целью последующей томографической реконструкции их пространственного строения

АННОТАЦИЯ:

Режим регистрации High Angle Centered Dark Field (HACDF, или центрированное темное поле при больших углах) разработан в Институте катализа и применен для томографической реконструкции структуры катализаторов, обладающих кристаллической структурой. В ходе работы разработаны специальные томографические держатель и сетки; предложен и реализован алгоритм выравнивания угловых серий.

На примере мезопористого силиката SBA-15, нанесенного платинового катализатора на основе сибунита и габитуса каталитических частиц, ведущих синтез КВУ показано, что метод HACDF-томографии может быть успешно применен для исследования особенностей пространственного строения катализаторов и объектов материаловедения. В частности, режим визуализации позволил идентифицировать морфологические особенности металлической частицы катализатора синтеза КВУ в месте прикрепления углеродного волокна, которые образовались в процессе роста в результате переноса металла в растущее волокно. Метод электронной томографии в режиме HACDF достаточно чувствителен, чтобы реконструировать форму не только металлической частицы, но и углеродного волокна, образовавшегося на ней, не смотря на низкое соотношение сигнал-шум на исходных снимках (3:1).

Разработанный метод открывает уникальные возможности исследования морфологических особенностей объектов в нанометровом масштабе